NAMCL HOME POSTECH DEPARTMENT POSTECH
sub_visual The Best Think Tank sub_container_line

TEM

HOME :: Lecture > TEM

전자현미경론(AMSE608-01)

1. 강의시간

  월 수 (09:30~10:45)     제 2공학관 강의식[111호]

2. 성적평가

 1. Exams - 2 Midterms(20% each) and Final Exam (40%)

 2. Home Works and Term Projects (20%)

3. 강의진도계획

1. Introduction    
  - Invention and Progress of EM      
  - Electron specimen Interactions    - Spatial Resolution and Penetration   
  - Various Contemporary Analytical Techniques

2. Particle Optics of Electrons      
  - Optical Resolution      
  - Generation and Acceleration of Electrons      
  - Electron Motion in Electric and Magnetic Fields      
  - Geometrical Lens Optics      Electromagnetic Lenses      
  - Lens Aberration

3. Control of an Electron Microscope     
  - Ray Diagrams     
  - Electron Gun System     
  - Illumination and Astigmatism Correction      
  - Resolving Power      
  - Depth of Field/ Focus

4. Electron Scattering and Diffraction     
  - Wave optics of electrons
  - Kinematical Theory of Electron Diffraction
  - Geometry of Electron Diffraction: Indexing of  ring & spot patterns     
  -  Information from Kikuchi Patterns

5. Kinematical and Dynamical Theories of Image Contest      
  - Image Contest      
  - Contrast from a  Perfect Crystals      
  - Contrast from an Imperfact Crystals      
  - Failure of Kinematical Theory     
  - Dynamical Extinction Distance     
  - Wave-optical Treatment of Dynamical Theory

6. Imaging by Diffraction Contrast      
  - Invisibility Criteria for Defect Determination      
  - Dislocations and Burgers Vector Dertermination      
  - Planar Lattice Faults      
  - Coherent and Incoherent Precipitates      
  - Internal Boundaries

7. Crystalline Structure Imaging by Phase Contrast       
  - Fresnel and Fraunhofer Diffractions       
  - Wave-Optical Formulation of Imaging       
  - Contrast Transfer Function       
  - Experiments of High Resolution Image       
  - Simulation of HREM Image

8. Analytical Electron Microscopy - Term project       
  - Convergent Beam Electron Microscopy(CBEM)       
  - Electron Energy Loss Spectroscopy(EELS)       
  - Scanning Transmission Electron Microscopy(STEM)       
  - In-Situ Electron Microscopy       
  - Weak Beam Image Techniques

4. 참고문헌 및 자료

1. P.Hirsch, A. Howie, R.B Nicholson, D.W. Pasley and M.J Whelan, Electron Microscopy of Thin Crystals, 1965 Krieger, 1977
2. G. Thomas, M.J. Goringe, Transmission Electron Microscopy of Materials, John Wiley and Sons, 1979
3. J.W. Edington, Practical Electron Microscopy in Materilas Science, vol. 1-5, Van Nostrand Reinhold, 1976
4. L. Reime, Transmission Electron Microscopy, Springer-Verlag, 2nd.ed. 1984
5. J.C.H. Spence, Experimental High Resolution Microscopy, Oxford Univ. Press, 1980
6. S.Horiuchi, Fundmentals of High-Resolution Transmission Electron Microscopy, North-Halland, Amsterdam, 1994
7. D.B. Williams and C.B. Carter, Transmission Electron Microscopy, Plenum Press, New York, 1996
8. Marc De Graef, Introduction to Conventional Transmission Electron Microscopy, Cambridge Univ. Press 2003
9.금동화 등, 투과전자현미경 분석학, 청문각, 1996
10.今野 豊産, 物質에서 回折과 結像, 共立 出版, 2003