글번호
9087419
일 자
20.02.28
조회수
44
글쓴이
최재림
제목 : [2020.02.28] 김우찬 연구참여 최종발표

2월 28일 금요일은 김우찬 학부생의 연구참여 최종 발표가 있는 날이 었습니다.



김우찬 학생은 1월부터 2월까지 총 2개월간, 웨이퍼의 군집성 불량 패턴 발생과 Die defect 발생과의



연관관계를 분석하는 연구를 수행하였습니다.



분석 결과, 특정 군집성 분량 패턴에서의 Die defect 종류의 존재성을 확인할 수 있었습니다.



랩세미나가 끝난 후 김우찬 연구참여생과 품질시스템연구실원들이 한 자리에 모여, 맛찬들에서 회식을 하였습니다.



2개월간 연구 참여에 최선을 다해준 김우찬 연구참여생에게 큰 박수를 보내며,



연구참여 경험이 앞으로의 학업에 큰 밑거름이 되길 기대합니다!


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