글번호
8988231
일 자
19.12.07
조회수
101
글쓴이
최재림
제목 : [2019.12.02-05] 품질시스템연구실 일원, APIEMS 2019 참석


2019년 12월 2-5일 동안 일본 Kanazawa에서 열린 APIEMS 2019에 품질시스템연구실 일원이 참석하였습니다.


이창호 박사과정은 "Discovering Sequences of Machines causing Wafer Bin Map Failure Patterns

 
in Semiconductor Manufacturing Process
"을 주제로 발표하였습니다.


류도현 박사과정은 "Application of Energy Usage Pattern for Reducing Occupants' Discomfort in an


On-campus Apartment Building"을 주제로 발표하였습니다.
 
최승현 박사과정은 "Development of a Wafer Bin Map Defect Pattern Classification Scheme:


Spatial Element-based Approach"을 주제로 발표하였습니다.


학회 기간 동안 김광재 교수님은 아시아-태평양 지역의 다양한 교수 및 연구자들과 교류하는 시간을 가지셨습니다.


발표 외에도 다양한 컨텐츠 및 식사가 준비되어 있어 즐거운 시간을 보낼 수 있었습니다.


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